Обнаружение и оценка минералов в геологических пробах и продуктах с помощью услуг в области минералогии.
Мы являемся экспертами в автоматизированной и прикладной минералогии и петрологии. Благодаря более чем 70-летнему опыту в области минералогии мы повышаем ценность вашего проекта с помощью высокоточных минералогических исследований, которые помогают принимать стратегические решения и отстраиваться от конкурентов.
Мы предлагаем надежные решения в следующих областях:
- Поисковая минералогия
- Технологическая минералогия
- Прогнозная минералогия и геометаллургия
- Поддержка и минералогия на объекте
- Экологическая минералогия
- Определение характеристик и поведения золота и драгоценных металлов
- Критически важные минералы и сырье для аккумуляторов
- Переработка и экономика замкнутого цикла
Почему именно SGS?
Мы являемся мировым лидером в области испытаний минералов и материалов, консалтинговых услуг и услуг на объекте для горнодобывающей и обогатительной отраслей. Мы предлагаем непревзойденный опыт в области минералогии для широкого спектра сырьевых материалов.
Мы используем высокоточную минералогию для быстрого и объективного определения таких параметров, как:
- Минералогический состав
- Распределение химических элементов в минеральных фазах
- Размер зерна и частиц
- Изучение текстуры
- Поведение элементов
- Характеристика связей и свободных минералов
Наша высокоточная минералогия превращает данные в ценные знания и прикладные решения. Специалисты мирового класса в области минералогии, работающие в компании SGS, обеспечат качественные данные и помогут интерпретировать их на каждом этапе реализации вашего проекта.
Для предоставления надежных минералогических решений мы разрабатываем и поддерживаем самые передовые технологии, в том числе:
- TIMA-X
- QEMSCAN
- Рентгеновская дифракция (XRD)
- Сканирующий электронный микроскоп (SEM)
- Оптическая микроскопия и анализ изображений
- Разделение в тяжелой жидкости
- Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье (FTIR)
- Рентгеноспектральный анализ (EMPA)
- Лазерная абляция (LA-ICP-MS)
- Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS): динамическая и статическая